Development of advanced active control devices of dimensional parameters products by using sapphire measuring tips
Leun E.V.
Development of active control devices of dimensional parameters of the details by using sapphire measuring tips
Leun E.V.
Development of active control devices of dimensional parameters of the details by using sapphire measuring tips
Доклад Леуна Е.В., Сысоева В.К.
"Применение в ракетно-космической промышленности рефлектометрических датчиков в составе приборов активного контроля параметров изделий:
размеров, шероховатости поверхности и её угла наклона, температуры".