25 августа 2017 г. По заявке №2015151999 получен патент РФ №2617482 «Способ резки хрупких материалов». Папченко Б.П., Вятлев П.А., Леун Е.В., Сысоев В.К. МПК G03B 33/09, В23K 15/00 Приоритет от 03.12.2015. |
12 мая 2017 г. По заявке №2015151999 получен патент РФ №2617482 «Способ резки хрупких материалов». Папченко Б.П., Вятлев П.А., Леун Е.В., Сысоев В.К. МПК G03B 33/09, В23K 15/00 Приоритет от 03.12.2015. |
25 апреля 2017 г. Получено положительное решение на выдачу патента РФ по заявке №2015151999 «Способ резки хрупких материалов». |
18 марта 2017 г. По заявке №2015145625 получен патент РФ №2612349 «Струйный способ контроля линейных размеров изделий». Леун Е.В. МПК G01B 11/02 Приоритет от 23.10.2015. |
11 февраля 2017 г. Получено положительное решение на выдачу патента РФ по заявке №2015145625 «Струйный способ контроля линейных размеров изделий». |
26 января 2017 г. В рамках XLI академических чтений по космонавтике, посвященных памяти С.П.Королева и других пионеров освоения космического пространства в МГТУ им. Н.Э.Баумана был сделан доклад "Применение гидроструйного интерферометрического способа контроля размеров изделий в ракетно-космической технике". |
3 декабря 2016 г. По заявке 2015117471 получен патент РФ №2603516 "Способ измерения линейных размеров изделия, выполненного с впадинами и выступами на поверхности". Леун Е.В. МПК В24В 49/04, B24B 49/12, B24Q 17/20 Приоритет от 08.05.2015. |
15 ноября 2016 г. Был сделан доклад на X Международной IEEE Научно-технической конференции «ДИНАМИКА СИСТЕМ, МЕХАНИЗМОВ И МАШИН» (Омск, Россия, 15–17 ноября, 2016) с докладом "Гидроструйный интерферометрический способ контроля размеров изделий". |
16 октября 2016 г. Получено положительное решение на выдачу патента РФ по заявке №2015117471 «Способ активного контроля размеров изделий». |
30 мая 2016 г. В рамках X Всероссийской научной конференции, посвященной памяти главного конструктора ПО «Полёт» д.т.н., проф. А.С.Клинышкова (Омск, 30–31 мая 2017г.) опубликован доклад Леуна Е.В. "Особенности построения перспективных лазерных способов активного контроля размеров изделий". |
26 мая 2016 г. В рамках I Всероссийской научно-практической конференции "Оптическая рефлектометрия - 2016" (Пермь, 26-27 мая 2016 г.) был сделан доклад, подготовленный Леуном Е.В., Сысоевым В.К. "Применение в ракетно-космической промышленности рефлектометрических датчиков в составе приборов активного контроля параметров изделий: размеров, шероховатости поверхности и её угла наклона, температуры". |
25 мая 2016 г. В номере 4(148) 2016 г. журнала "Омский научный вестник" опубликована статья Леуна Е.В. "Разработка приборов активного контроля размерных параметров изделий с использованием сапфировых измерительных наконечников". |
28 декабря 2015 г. Получен патент на полезную модель №157867 "Бесконтактная оптическая головка для контроля геометрических параметров изделий" Леун А.Е., Юдин А.Д., Дмитриев А.О., Привезенцева И.В., Леун Е.В., Пчелкин С.Е. МПК G01B 11/02, 9/02 Приоритет от 09.02.2015. |
|
|