25 августа 2017 г. 

По заявке №2015151999 получен патент РФ №2617482 «Способ резки хрупких материалов». Папченко Б.П., Вятлев П.А., Леун Е.В., Сысоев В.К. МПК G03B 33/09, В23K 15/00 Приоритет от 03.12.2015.

12 мая 2017 г. 

По заявке №2015151999 получен патент РФ №2617482 «Способ резки хрупких материалов». Папченко Б.П., Вятлев П.А., Леун Е.В., Сысоев В.К. МПК G03B 33/09, В23K 15/00 Приоритет от 03.12.2015.

25 апреля 2017 г.

Получено положительное решение на выдачу патента РФ по заявке №2015151999 «Способ резки хрупких материалов».

18 марта 2017 г.

По заявке №2015145625 получен патент РФ №2612349 «Струйный способ контроля линейных размеров изделий». Леун Е.В. МПК G01B 11/02 Приоритет от 23.10.2015.

11 февраля 2017 г.

Получено положительное решение на выдачу патента РФ по заявке №2015145625 «Струйный способ контроля линейных размеров изделий».

26 января 2017 г.

В рамках XLI академических чтений по космонавтике, посвященных памяти С.П.Королева и других пионеров освоения космического пространства в МГТУ им. Н.Э.Баумана был сделан доклад "Применение гидроструйного интерферометрического способа контроля размеров изделий в ракетно-космической технике".

3 декабря 2016 г.

По заявке 2015117471 получен патент РФ №2603516 "Способ измерения линейных размеров изделия, выполненного с впадинами и выступами на поверхности". Леун Е.В. МПК В24В 49/04, B24B 49/12, B24Q 17/20 Приоритет от 08.05.2015. 

15 ноября 2016 г.

Был сделан доклад на X Международной IEEE Научно-технической конференции «ДИНАМИКА СИСТЕМ, МЕХАНИЗМОВ И МАШИН» (Омск, Россия, 15–17 ноября, 2016) с докладом "Гидроструйный интерферометрический способ контроля размеров изделий". 

16 октября 2016 г.

Получено положительное решение на выдачу патента РФ по заявке №2015117471 «Способ активного контроля размеров изделий». 

30 мая 2016 г.

В рамках   X   Всероссийской    научной    конференции,   посвященной    памяти    главного   конструктора
ПО «Полёт» д.т.н., проф. А.С.Клинышкова (Омск, 30–31 мая 2017г.) опубликован доклад Леуна Е.В. "Особенности построения перспективных лазерных способов активного контроля размеров изделий".

26 мая 2016 г.

В рамках I Всероссийской научно-практической конференции "Оптическая рефлектометрия - 2016" (Пермь, 26-27 мая 2016 г.) был сделан доклад, подготовленный Леуном Е.В., Сысоевым В.К. "Применение в ракетно-космической промышленности рефлектометрических датчиков в составе приборов активного контроля параметров изделий: размеров, шероховатости поверхности и её угла наклона, температуры". 

25 мая 2016 г.

В номере 4(148) 2016 г. журнала "Омский научный вестник" опубликована статья Леуна Е.В. "Разработка приборов активного контроля размерных параметров изделий с использованием сапфировых измерительных наконечников". 

28 декабря 2015 г.

Получен патент на полезную модель №157867 "Бесконтактная оптическая головка для контроля геометрических параметров изделий" Леун А.Е., Юдин А.Д., Дмитриев А.О., Привезенцева И.В., Леун Е.В., Пчелкин С.Е. МПК G01B 11/02, 9/02 Приоритет от 09.02.2015.